机译:在(100)绝缘体上硅上图案化的电气线宽测试结构,用作CD标准
机译:用于纳米结构多铁性材料原位机械和电学表征的微型测试平台
机译:在单晶膜中制造的用于参考材料的电气线宽测试结构
机译:(100)绝缘体上硅材料中复制的亚微米级特征的电子CD测量值和横截面晶格计数的比较
机译:超薄氧注入绝缘体上硅材料的微观结构和加工条件的相关性。
机译:电形成的界面层的影响以及包含AlOxGdOxHfOx和TaOx开关材料的IrOx /high-κx/ W结构的改进的存储特性
机译:注入氧的超薄绝缘体上硅材料的微观结构与加工条件的相关性
机译:在绝缘体上硅材料中复制的电测试结构